二、三极管等半导体器件损坏的特点

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标题: 二、三极管等半导体器件损坏的特点

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沧海一笑
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2008-4-3 10:58:00

二、三极管等半导体器件损坏的特点

二、三极管的损坏一般是PN结击穿或开路，其中以击穿短路居多。
此外还有两种损坏表现：
一是热稳定性变差，表现为开机时正常，工作一段时间后，发生软击穿；
另一种是PN结的特性变差，用万用表R×1k测，各PN结均正常，但上机后不能正常工作，如果用R×10或R×1低量程档测，就会发现其PN结正向阻值比正常值大。
测量二、三极管可以用指针万用表在路测量，较准确的方法是：
将万用表置R×10或R×1档（一般用R×10档，不明显时再用R×1档）在路测二、三极管的PN结正、反向电阻，如果正向电阻不太大（相对正常值），反向电阻足够大（相对正向值），表明该PN结正常，反之就值得怀疑，需焊下后再测。这是因为一般电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧以上，用万用表低阻值档在路测量，可以基本忽略外围电阻对PN结电阻的影响。

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