SSP3112-X芯片光色电参数综合测试仪

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| 邮 编: | 310011 |
| 公司网站: | www.xpgd.com |
产品说明
SSP3112-X型测试系统由SSP3112 LED光色电分析系统和LED 芯片测试平台组成。测试平台则由样品台(移动范围为75*75mm)、探针架(三维)、光纤和光强测量支架、显微镜、电路控制盒等部分构成,能够快速平稳地点亮各种LED芯片。本系统光强测试符合CIE近场条件,通过光纤传输光信号。光强测量选用近场测量条件,光纤耦合
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