SSP3112-W外延片光色电参数综合测试仪
| 当前价格： | 面议元 /套 |
| 最小订量： | 1起订 |
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| 所 在 地： | 浙江省杭州市 |
| 发布日期： | 2008年12月1日 |
| 有 效 期： | 不限期 |
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| 杭州星谱光电科技有限公司 | |
| 联 系 人： | 汪定贵先生( 销售经理) |
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| 移动电话： | 13136159299 |
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| 地 址： | 浙江省杭州市莫干山路841弄18-4#二楼 |
| 邮 编： | 310011 |
| 公司网站： | www.xpgd.com |
产品说明
SSP3112-W 型测试仪由SSP3112光谱分析系统和外延片测量支架构成，测量外延片的基本光色电参数，包括正向电压、反向漏电流、光强、光谱能量分布、波长、色温、色坐标、光通量、光功率、显色指数。测试支架能够满足上下两个方向的测量
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