昂坤视觉近期推出了针对MicroLED外延检测高端设备E3200micro,该设备在昂坤视觉上一代两款蓝绿光和红光外延片检测设备的基础上,检测光学系统重新做了设计和提升,在一台设备上集成了表面缺陷和红,蓝和绿光外延片的荧光缺陷检测。表面颗粒的最小精度达到了60nm,荧光缺陷像素分...  [详内文]
昂坤视觉推出MicroLED专用外延检测设备E3200micro |
| 作者 huang, Mia|发布日期 2025 年 11 月 13 日 15:53 | 分类 企业 , 光电 |
