近期,精测电子自主研发推出JHP560系列第三代功率半导体动态可靠性测试系统。
精测电子介绍,该系统通过模拟实际应用开关条件的高温动态高频交流场景,以大容量、高性能测试(宽电压、高频、高dv/dt),精准捕捉栅氧缺陷、界面态劣化、材料本征缺陷等引发的早期失效风险,实现器件可靠性的...  [详内文]
这家厂商发布第三代功率半导体动态可靠性测试系统 |
作者 KikiWang|发布日期 2025 年 10 月 23 日 18:18 | 分类 功率 , 半导体产业 |